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突破芯片供电瓶颈 英特尔BS PDN背面供电网络技术解析

突破芯片供电瓶颈 英特尔BS PDN背面供电网络技术解析

2025年6月5日,英特尔正式公布了其独家的 BS PDN(Backside Power Delivery Network,背面供电网络)技术细节。这项被业界视为“后摩尔时代”关键突破的技术,将彻底改变传统芯片的供电方式,为高性能计算、人工智能和数据中心带来显著的能效与密度提升。

传统供电的困境

在传统芯片设计中,晶体管位于硅片正面,而供电网络与信号布线则共享正面的多层金属层。随着制程不断微缩,供电线路与信号线路日益拥挤,导致电压降(IR drop)增大、功耗上升,并限制了晶体管密度的进一步提高。这好比一个城市的所有水电管道和交通道路都挤在同一平面上,必然造成拥堵。

什么是BS PDN?

BS PDN的核心思想是“将供电网络移到芯片背面”。通过晶圆减薄和载片键合等工艺,英特尔将粗大的供电金属层置于硅衬底背面,而正面金属层则专用于信号布线。这样,供电和信号在物理上彻底分离,带来了三大优势:

  • 降低电压降:背面供电金属层可以做得更厚、更宽,电阻极小,大幅减少供电过程中的电压损耗,确保晶体管获得更稳定的电压。
  • 提升晶体管密度:正面金属层不再被供电线路占用,可以用于更密集的信号布线,从而在相同面积内容纳更多晶体管。
  • 改善功耗与性能:更短的供电路径和更低的电阻可降低动态功耗,同时允许更高频率运行。

英特尔的实现路径

英特尔在其Intel 20A和Intel 18A节点中率先引入BS PDN,并称之为“PowerVia”。该技术结合了纳米片晶体管(RibbonFET)和极紫外光刻(EUV),通过以下关键步骤实现:

  1. 晶圆正面制作:先完成晶体管和信号布线。
  2. 晶圆翻转与减薄:将晶圆翻转并减薄至仅剩几微米厚的硅层,暴露晶体管背面。
  3. 背面供电网络构建:在背面沉积金属层,形成纳米级TSV(硅通孔)连接至晶体管的源极和漏极。
  4. 堆叠与封装:完成后的芯片可继续与其他芯粒或基板集成。

英特尔表示,PowerVia在测试芯片上实现了超过5%的频率提升和超过10%的功率效率改进,同时芯片面积利用率也得到提高。

业界影响与展望

BS PDN技术被视为延续摩尔定律的关键路径之一。除了英特尔,台积电、三星等厂商也在积极研发类似方案。但英特尔此次详细公布技术细节,展示了其在该领域的领先信心。BS PDN有望与2.5D/3D封装、背面DRAM等结合,推动芯片向“三维集成”方向演进,为AI大模型、自动驾驶等算力密集型应用提供更强大的底层支撑。

简言之,英特尔的BS PDN背面供电网络技术,正如同为芯片开辟了一条“电力高速专线”,让信号与供电各行其道,从而释放晶体管的全部潜力。随着18A节点量产临近,这场从正面到背面的供电革命,即将迎来真正的市场检验。

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更新时间:2026-10-26 04:03:38

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